苏州微分科技有限公司_二次离子质谱分析,SIMS,SIMS材料分析

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苏州微分科技有限公司（SWF）是一家第三方分析测试公司，专注于为半导体工业的制造和研发提供二次离子质谱分析（SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry）服务。

苏州微分可以测试各种半导体材料（Si, SiC, GaAs, InP, GaSb, GaN等）的掺杂和成分，有助于制造工艺（MOCVD， MBE， CVD，离子注入，扩散等）的校准和优化，帮助客户缩短研发周期和提高成品率。

二次离子质谱（SIMS）是一种分析技术，可检测极低浓度的掺杂剂和杂质。它可以在几纳米到几十微米的深度范围内提供元素深度分布。 SIMS通过用聚焦的初级离子束溅射样品表面来工作。在溅射期间形成的二次离子被提取并使用质谱仪分析。

信息中心 2022-06-14

对掺杂剂和杂质具有出色的检测灵敏度，对大多数元素具有ppma或更低的检测灵敏度，深度剖面具有出色的检测极限和深度分辨率，小面积分析（10μm或更大），出色的动态范围（高达7数量级），在某些应用中，主要元素组成可能。

信息中心 2022-06-14

常规检测项目周期一般是3个工作日，方法开发/验证、以及加急项目请来电咨询：（0512）65101962。以上仅供参考，以具体需求和实际情况为准。

信息中心 2022-06-14

苏州微分科技有限公司（SWF）是一家专业的第三方分析测试公司，专注于为半导体工业的制造和研发提供二次离子质谱分析（SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry）服务。

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